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| 非致冷红外焦平面使用的CMOS读出电路噪声分析 | |
| 引用本文： | 郭荣新.非致冷红外焦平面使用的CMOS读出电路噪声分析[J].科技咨询导报,2008(13):4-4. |
| 作者姓名： | 郭荣新 |
| 作者单位： | 华侨大学信息学院 福建泉州362021 |
| 摘 要： | 从微测辐射热计的红外辐射响应特性入手．分析其焦平面阵列的CMOS读出电路工作原理，指出读出电路的主要性能指标要求，讨论影响性能的重要因素噪声的特点，为微测辐射热计焦平面阵列CMOS读出电路的设计遵定必要的理论基础。 |
| 关 键 词： | 非致冷红外焦平面 CMOS读出电路 噪声 |
| 文章编号： | 1674-098X(2008)05(a)-0004-01 |
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