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| 发射光谱法测定复合型电接触材料的成分 | |
| 作者姓名： | 徐引娟 吴正纯 |
| 作者单位： | [1]上海大学理学院 [2]上海大学材料科学与工程学院 |
| 摘 要： | 本文报道了采用固体稀释处理后，以摄谱法成功地分析了新型复合电触头材料粉体Ａｇ８０（ＷＣ７０ＴｉＣ３０）１７Ｃ３中主成份银、钨、钛的含量，其相对差为０．２６％，摄谱法本身的标准偏差为０．２９４。文中还对赋于对试样进行固体稀释处理而可能引入的误差，进行了计算机模拟分析。 |
| 关 键 词： | 电接触材料 摄谱法 复合型 发射光谱法 复合型 |
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