| 双参考光相移全息干涉计量 |
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| 引用本文： | 郑文 谭玉山. 双参考光相移全息干涉计量[J]. 西安交通大学学报, 1992, 26(1): 47-50 |
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| 作者姓名： | 郑文 谭玉山 |
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| 作者单位： | 西安交通大学机械工程系激光室，西安交通大学机械工程系激光室 |
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| 基金项目： | 国家“七五”重点科技攻关项目 |
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| 摘 要： | 本文描述了一种性能优良的条纹分析系统.该系统将相移技术应用于全息干涉计量中,能自动、快速、准确地获得干涉图的相位场.分析一幅条纹图(256×256×8bit)仅需2分钟,重复精度可达±5°.
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| 关 键 词： | 相移 全息干涉计量 条纹图 |
TWO-REFERENCE WAVE PHASE STEPPING HOLOGRAPHIO INTERFEROMETRY |
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| Zheng Wen Tan Yushan. TWO-REFERENCE WAVE PHASE STEPPING HOLOGRAPHIO INTERFEROMETRY[J]. Journal of Xi'an Jiaotong University, 1992, 26(1): 47-50 |
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| Authors: | Zheng Wen Tan Yushan |
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| Affiliation: | Department of Mechanical Engineering |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | phase shifting holographic interferometry fringe pattern |
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