首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

γ射线辐照对BJT硅器件参数的影响
引用本文:唐多权,马立国.γ射线辐照对BJT硅器件参数的影响[J].扬州大学学报(自然科学版),1998,1(4):21-23.
作者姓名:唐多权  马立国
摘    要:研究了3种不同类型的BJT硅晶体器件,经γ射线辐照,理化处理后,其反向截止电流,反向击穿电压,饱和压降,静态电流放大系数等电学参数的变化规律。

关 键 词:硅晶体管  n-p-n结构  γ射线辐照  BJT器件
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号