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Schottky势垒中的电中性能级、平均键能和费米能级
引用本文:李书平,王仁智. Schottky势垒中的电中性能级、平均键能和费米能级[J]. 厦门大学学报(自然科学版), 2003, 42(5): 586-590
作者姓名:李书平  王仁智
作者单位:厦门大学物理学系,福建,厦门,361005
基金项目:厦门大学校级自选课题(Y07010)资助
摘    要:基于第一原理赝势能带计算。采用电中性能级和平均键能方法计算了7种不同半导体的Schottky接触势垒高度,结果表明2种方法都可用于计算金属-本征半导体的接触势垒高度。文中用于确定接触势垒高度的“本征半导体基态费米能级EF^S,i”不同于半导体物理中所指的“本征费米能级Ei”.n型半导体接触势垒、p型半导体接触势垒和本征半导体势垒,三者在接触界面附近的费米能级都是“钉扎”于本征半导体基态费米能级EF^S,i,是此三者的接触势垒高度大致相同的原因。

关 键 词:Schottky势垒 电中性能级 平均键能 费米能级 半导体 接触势垒高度 第一原理赝势能带计算
文章编号:0438-0479(2003)05-0586-05
修稿时间:2003-02-17

Charge-neutrality Level, Average-bond-energy and Fermi Level in Schottky Barrier
Abstract:
Keywords:Schottky barrier  charge-neutrality level  average-bond-energy  Fermi level
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