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单晶磁性薄膜铁磁共振线宽的测量
引用本文:周世昌 ,龙毅.单晶磁性薄膜铁磁共振线宽的测量[J].华中科技大学学报(自然科学版),1984(4).
作者姓名:周世昌  龙毅
摘    要:本文在谐振腔微扰理论的基础上,讨论了液相外延生长的YIG薄膜铁磁共振线宽的测量原理及误差来源,同时也对我们所使用的铁磁共振波谱仪进行了必要的描述.该仪器已用于对小于1Oe的线宽进行精密测量,其误差不超过±5%。

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