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RuO2-ZrO2二元氧化物电活性的EIS分析
引用本文:路恒达,王 欣,朱君秋,林 玮,唐 电. RuO2-ZrO2二元氧化物电活性的EIS分析[J]. 福州大学学报(自然科学版), 2013, 41(5): 928-933
作者姓名:路恒达  王 欣  朱君秋  林 玮  唐 电
作者单位:福州大学材料科学与工程学院,福建 福州350116;福州大学材料科学与工程学院,福建 福州350116;福州大学材料研究所,福建 福州350116;福州大学材料研究所,福建 福州350116;福州大学材料科学与工程学院,福建 福州350116;福州大学材料研究所,福建 福州350116
基金项目:国家自然科学基金资助项目(11104031;11374053)
摘    要:采用热分解法在Ti基体表面制备RuO2-ZrO2氧化物涂层.运用X-射线衍射(XRD)技术和交流阻抗(EIS)技术研究Ti/RuO2-ZrO2涂层电极的结构及其与电活性的关系.研究表明,所测试Ru-Zr二元氧化物涂层电极的等效电路可以用LRΩ(R1Q1)(Q2W)加以描述.这一电路与Ti/RuO2-TiO2涂层电极的电路具有可比性.详细分析随名义ZrO2含量的增加,R1、Q1、Q2和W阻抗值变化的规律性.并进而讨论了随ZrO2含量的增加,电极电阻元件的阻抗值变化和电容元件的电容值变化与组织形貌和结构变化之间的关系.

关 键 词:电活性  RuO2  ZrO2  EIS  结构  电容  电阻

EIS analysis of capacitive properties for RuO2-ZrO2 binary oxides
LU Heng-d,WANG Xin,ZHU Jun-qiu,LIN Wei and TANG Dian. EIS analysis of capacitive properties for RuO2-ZrO2 binary oxides[J]. Journal of Fuzhou University(Natural Science Edition), 2013, 41(5): 928-933
Authors:LU Heng-d  WANG Xin  ZHU Jun-qiu  LIN Wei  TANG Dian
Affiliation:LU Heng-da;WANG Xin;ZHU Jun-qiu;LIN Wei;TANG Dian;College of Material Science and Engineering,Fuzhou University;Institute for Materials Research,Fuzhou University;
Abstract:
Keywords:
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