| 基于CBPSO的板级电路测试性设计优化方法研究 |
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| 引用本文： | 吕晓明,刘晓芹,黄考利,刘耀周.基于CBPSO的板级电路测试性设计优化方法研究[J].系统工程学报,2010,25(6). |
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| 作者姓名： | 吕晓明 刘晓芹 黄考利 刘耀周 |
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| 摘 要： | 基于边界扫描的板级电路在测试性改善一定条件下,设计复杂性最小化问题属于组合优化问题,同时也是NP-难题.针对该组合优化问题提出了基于混沌二进制粒子群优化的求解方法.该方法在二进制粒子群优化的基础上,对当前最佳粒子以变概率进行混沌优化,引导粒子跳出局部最优继续在全局范围内搜索,从而克服二进制粒子群的"早熟"收敛.通过实例验证,该算法在优化效果、搜索效率等方面均获得了较好的结果.事实证明,该算法能有效地应用于板级电路的测试性设计优化.
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| 关 键 词： | 测试性设计 边界扫描 板级电路 混沌优化 二进制粒子群优化 |
Optimizing method of board level circuit design for testability based on chaos particle swarm optimization |
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| L Xiao-ming,LIU Xiao-qin,HUANG Kao-li,LIU Yao-zhou.Optimizing method of board level circuit design for testability based on chaos particle swarm optimization[J].Journal of Systems Engineering,2010,25(6). |
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| Authors: | L Xiao-ming LIU Xiao-qin HUANG Kao-li LIU Yao-zhou |
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| Institution: | L(U) Xiao-ming,LIU Xiao-qin,HUANG Kao-li,LIU Yao-zhou |
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