|
|||||
|
|
| 用X射线衍射仪法测定纯铜点阵常数 | |
| 作者姓名： | 陈高恩 薛殿麒 |
| 作者单位： | [1]中南民族学院物理系 [2]长城特殊钢公司 |
| 摘 要： | 用Ｘ射线衍射仪法对光谱纯铜进行了点阵常数的精确测定，给出了测定值。从实验技术方面进行了分析阐述，为金属材料研究和大学近代物理实验选题提供了参考。 |
| 关 键 词： | X射线衍射 晶面指数 点阵常数 纯铜 铜 测定 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |