| 在硅基材料上用Sol-gel法制备涂层测定氧扩散系数研究 |
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| 引用本文： | 谭红,何锦林,汪大成,陈佳新.在硅基材料上用Sol-gel法制备涂层测定氧扩散系数研究[J].贵州科学,2003(Z1). |
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| 作者姓名： | 谭红 何锦林 汪大成 陈佳新 |
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| 作者单位： | 贵州省理化测试中心，贵州省理化测试中心，贵州省冶金科学研究室，Department of Inorganic Chemistry，Chaimers University of Techmology 贵州贵阳 550002，贵州贵阳 550002，贵州贵阳 550002，S41296 GOTEBORG，SWEDEN |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(批准号:59761001) |
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| 摘 要： | 提出一种测定氧扩散系数新方法。用Sol-gel法制备了Y2O3/SiO2均匀致密的薄膜,能成功解决其它方法无法得到的冶炼所得到的熔体,光学椭偏测定氧化层的膜厚。探讨了氧在薄膜中的扩散,在Wagner理论基础上,用数学方法表达在掺杂SiO2薄膜氧扩散系数与氧化层膜厚的关系。
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| 关 键 词： | Sol-gel Y2O3/SiO2 氧扩散系数 |
A STUDY ON OXYGEN DIFFUSION THROUGH COATING THIN FILM FORMED BY SOL-GEL PROCESS |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | sol-gel Y_2O_3/SiO_2 diffusion coefficient |
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