试析新型IC智能测试仪的原理、结构及其使用方法 |
| |
作者姓名: | 柯璇 肖运红 张绪宽 |
| |
作者单位: | 江汉大学物理与信息工程学院,湖北,武汉,430056 |
| |
摘 要: | IC芯片商家及用户在使用IC芯片过程中需对IC芯片进行测试,以判断其好坏。开发通用集成电路测试仪是解决这一问题的一条有效途径。本分析了江汉大学的一项科研成果“IC智能测试仪”的测试原理、系统结构及使用方法。
|
关 键 词: | IC智能测试仪 原理 结构 使用方法 IC芯片 集成电路测试仪 单片机 |
文章编号: | 1006-7353(2003)04-0043(15)-03 |
修稿时间: | 2002-09-18 |
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录! |
|