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| 试析新型IC智能测试仪的原理、结构及其使用方法 | |
| 引用本文： | 柯璇,肖运红,张绪宽.试析新型IC智能测试仪的原理、结构及其使用方法[J].高等函授学报(自然科学版),2003,16(4):43-45. |
| 作者姓名： | 柯璇 肖运红 张绪宽 |
| 作者单位： | 江汉大学物理与信息工程学院,湖北,武汉,430056 |
| 摘 要： | IC芯片商家及用户在使用IC芯片过程中需对IC芯片进行测试，以判断其好坏。开发通用集成电路测试仪是解决这一问题的一条有效途径。本分析了江汉大学的一项科研成果“IC智能测试仪”的测试原理、系统结构及使用方法。 |
| 关 键 词： | IC智能测试仪 原理 结构 使用方法 IC芯片 集成电路测试仪 单片机 |
| 文章编号： | 1006-7353(2003)04-0043(15)-03 |
| 修稿时间： | 2002年9月18日 |
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