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| X-射线分析仪快速测定电解质CaF2,MgF2,NaF,KF的含量及BR | |
| 引用本文： | 赵秀琪.X-射线分析仪快速测定电解质CaF2,MgF2,NaF,KF的含量及BR[J].河南科技,2013(17):219-220. |
| 作者姓名： | 赵秀琪 |
| 作者单位： | 陕西铜川铝业有限责任公司 |
| 摘 要： | 采用电解质直接制样,用ARL-9900X射线分析仪直接对电解质中CaF2,MgF2,NaF,KF等化合物进行定量分析,根据酸性电解质物项组成,计算出铝电解质的分子比。通过对样品的反复试验、测定,其相对误差在2%以内,sd<1%,sd%<0.5%,实验结果表明,该方法快速、准确,其稳定性以及精密度均能满足铝电解生产的需要。 |
| 关 键 词： | 电解质 分子比 定量分析 X-射线分析仪 测定 |
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