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| 第一届全国二次离子质谱学(SIMS)会议在清华大学召开 | |
| 作者姓名： | 查良镇 |
| 摘 要： | SIMS会议于1993年5月31日到6月5日在北京清华大学举行。会议由中国真空学会、中国科学院表面物理实验室、电子工业部第46研究所、中国空间技术研究院兰州物理研究所、复旦大学和清华大学联合发起和主办,由清华大学、中科院表面物理实验室和电子部46所承办。 SIMS是近20余年来迅速发展起来的一门新兴交叉学科。我国二次离子质谱学的研究只有十几年,现已取得了显著的进展。会议目的是为了推动我国SIMS的进一步发展。会议内容包括:基础研究;仪器进展,包括四级、磁偏转和飞行时间SIMS,激光SIMS,聚焦离子束,溅射中性粒子质谱(SNMS)及相… |
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