| 一种自动测试晶体管开关参数的微机系统 |
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| 引用本文： | 冯素梅.一种自动测试晶体管开关参数的微机系统[J].重庆师范大学学报(自然科学版),2001,18(1):69-73. |
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| 作者姓名： | 冯素梅 |
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| 作者单位： | 重庆师范学院,图书馆,重庆,400047 |
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| 摘 要： | 给出一种对晶体管开关参数(二极管反向恢复时间trr,晶体三极管开启时间ton和关闭时间toff以及延迟时间td,上升时间tr,存储时间ts和下降时间tf)进行自动测试的系统TSP-ATS.论文以存储电荷Qs作为PN结开关特性及晶体三极管的开关参数为实测对象,论述了自动测试系统的工作原理;给出了系统测试方案和TSP-ATS的硬件设计方框图及测试软件的主流程图;对接口功能设计的状态图作了较详细的介绍并给出了最终的测试结果.
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| 关 键 词： | 开关参数 自动测试 测试电路 微机调控 |
| 文章编号： | 1001-8905(2001)01-0069-05 |
| 修稿时间： | 2000年10月9日 |
A Microcompute System of Transistor Switch Paramenter Auto-test |
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| FENG Su-mei.A Microcompute System of Transistor Switch Paramenter Auto-test[J].Journal of Chongqing Normal University:Natural Science Edition,2001,18(1):69-73. |
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| Authors: | FENG Su-mei |
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