|
|||||
|
|
| Zernike矩在精密光学元件疵病边缘定位中的应用 | |
| 引用本文： | 李艾星,张颖.Zernike矩在精密光学元件疵病边缘定位中的应用[J].科技资讯,2007(14):2-3. |
| 作者姓名： | 李艾星 张颖 |
| 作者单位： | 重庆交通大学计算机与信息学院,重庆,400047 |
| 摘 要： | 介绍了zernike矩,总结了利用zernike矩在进行边缘检测算法的步骤。由于原zernike算法有其不足之处,针对其不足之处得到改进算法。改进后的zernike矩算法在定位边缘亚象素坐标更加准确。运用改进后的zernike矩对精密光学元件表面疵病进行边缘检测,实验结果表明该方法具有很好的抗噪性,而且使得边缘定位更加精确。 |
| 关 键 词： | 边缘检测 亚象素 zernike矩 疵病 |
| 文章编号： | 1672-3791(2007)05(b)-0002-02 |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |