| 一种针对FPGA密码模块的非侵入式故障攻击 |
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| 作者姓名： | 廖楠 崔小欣 廖凯 王田 于敦山 程玉芳 |
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| 作者单位： | 1. 北京大学信息科学技术学院微电子学研究院, 北京 100871; 2. 国民技术股份有限公司, 深圳 518057;
† 通信作者, E-mail: cuixx@pku.edu.cn |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(61306040),北京市自然科学基金(4152020),深圳市战略新兴产业发展专项资金创新环境建设计划(ZDSY20130402095348589) |
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| 摘 要： | 在FPGA平台上, 利用降低电源电压的方法使电路关键路径上的数据建立失败, 从而达到注入故障的目的。基于合适的故障模型, 攻击者可以有效地获取密钥信息,实现了针对密码模块的高效率、低成本的非侵入式故障攻击方法。攻击实验利用一台电压源和一台个人电脑, 通过8组正确和错误密文对, 成功地恢复出一个FPGA 中AES密码模块的128 bit完整密钥。
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| 关 键 词： | 故障攻击 FPGA AES 建立失败
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| 收稿时间： | 2014-12-18 |
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