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热红外低比辐射率高漫反射比表面的分形表征
引用本文:徐则川,刘卫忠,卢德新,刘丽丽.热红外低比辐射率高漫反射比表面的分形表征[J].华中科技大学学报(自然科学版),2000,28(1):76-78.
作者姓名:徐则川  刘卫忠  卢德新  刘丽丽
作者单位:华中理工大学电子科学与技术系
基金项目:国家自然科学基金资助项目! ( 695770 0 7)
摘    要:采用 DFBIR模型分析了热红外低比辐射率高漫反射比粗糙表面的宏观分维特性 ,利用 SEM表面形貌图和图像处理系统 S60 0计算了宏观分维数 .为了描述本粗糙表面的微观分形特征 ,采用 W-M函数作为其数学模型 ,设计了随机分形算法 ,对粗糙表面 STM微观形貌进行了分形分析并计算了微观分维数 .研究结果表明 ,热红外低比辐射率高漫反射比粗糙表面不仅是分形表面 ,而且是多尺度分形表面 ,分维数 D与比辐射率ε及漫反射比 DR 均成正相关关系 ,红外特性相同但基体不同的粗糙表面有不同的分维数

关 键 词:粗糙表面  热红外  比辐射率  漫反射比
修稿时间:1999-07-06

Fractal Characterization of the Rough Surface with Low Emissivity and High Diffuse Reflectance in Thermal Infrared
Xu Zechuan,Liu Weizhong,Lu Dexin,Liu Lili.Fractal Characterization of the Rough Surface with Low Emissivity and High Diffuse Reflectance in Thermal Infrared[J].JOURNAL OF HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY.NATURE SCIENCE,2000,28(1):76-78.
Authors:Xu Zechuan  Liu Weizhong  Lu Dexin  Liu Lili
Institution:Xu Zechuan Liu Weizhong Lu Dexin Liu Lili
Abstract:
Keywords:rough surface  thermal infrared  emissivity  diffuse reflectance
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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