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| 基于光学方法的物体缺陷探测技术合作研究 | |
| 引用本文： | 于瀛洁.基于光学方法的物体缺陷探测技术合作研究[J].中国科技成果,2009,10(23):19-19. |
| 作者姓名： | 于瀛洁 |
| 作者单位： | 上海大学精密机械工程系 |
| 基金项目： | 国际科技合作计划项目 |
| 摘 要： | 工程应用中复杂物体的特征识别和缺陷拾取是非常重要的。数字光学技术，特别是电子散斑干涉技术和全息技术，适于复杂物体内部缺陷的识别。近年来，该方向的研究工作取得了很大进展，但因为物体内部缺陷的多样性和复杂性，在实际应用中仍有很多需要解决的技术难题。 |
| 关 键 词： | 复杂物体 技术合作 缺陷探测 光学方法 电子散斑干涉技术 特征识别 内部缺陷 光学技术 |
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