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| 圆分度刻划精度达到了新的水平 | |
| 摘 要： | 为了发展我国的高精度仪器,满足国家科研生产上的需要,以及摸清国内刻划水平,中国仪器仪表学会光学仪器专业委员会和中国光学学会工程光学专业委员会于1979年底组织了光学度盘、圆光栅、长标尺和长光栅四种基础元件的全国刻划评比。我院参加了前二项评比 |
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