|
|||||
|
|
| 质子X萤光的非真空分析 | |
| 作者单位： | 复旦大学静电加速器实验室 |
| 摘 要： | 质子X萤光分析,是七十年代初出现的先进分析手段。它利用质子束激发原子,测量由此产生的特征X射线,从而分析样品的元素成分和含量。在各种激发手段中,质子具有两个突出的优点:一是与原子相互作用的截面大;一是产生与特征X射线相干扰的轫致辐射的机率小。这两个特点使质子X萤光分析的灵敏度占各类方法的首位。它的灵敏度比电子扫描显微镜要高一百到一万倍;它能同时分析几十种元素, |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||
|
||||||||||||
|
||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |