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霍尔效应测量半导体特性参数中副效应的消除方法
引用本文:
杨洁.霍尔效应测量半导体特性参数中副效应的消除方法[J].潍坊学院学报,2010,10(6):32-34.
作者姓名:
杨洁
作者单位:
潍坊学院,山东潍坊261061
摘 要:
简述了霍尔效应的基本原理,分析了利用霍尔效应测量半导体特性参数中影响结果的重要副效应,给出了减小或消除这些副效应的方法,并设计出测试电路。
关 键 词:
霍尔效应
副效应
半导体测量
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