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H型栅/源漏非对称结构CMOS在 PDSOI标准单元建库中的应用
引用本文:赵德益,吴龙胜. H型栅/源漏非对称结构CMOS在 PDSOI标准单元建库中的应用[J]. 科学技术与工程, 2009, 9(10)
作者姓名:赵德益  吴龙胜
作者单位:西安微电子技术研究所,西安,710075;西安微电子技术研究所,西安,710075;西安微电子技术研究所,西安,710075;西安微电子技术研究所,西安,710075
基金项目:西安应用材料创新基金 
摘    要:基于0.35 μm SOI工艺平台,进行PDSOI CMOS标准单元建库技术研究.讨论选用H型栅和源漏非对称结构CMOS建立PDSOI标准单元的优点,根据0.35 μm SOI CMOS工艺设计规则进行标准单元库设计,并设计了标准单元测试芯片.

关 键 词:SOI CMOS  源漏非对称注入  H型栅  标准单元

Application of H-Gate/Asymmetric Source & Drain Structure CMOS in PDSOI Standard Cell Library
ZHAO De-yi,WU Long-sheng,YU Hong-bo,LIU You-bao. Application of H-Gate/Asymmetric Source & Drain Structure CMOS in PDSOI Standard Cell Library[J]. Science Technology and Engineering, 2009, 9(10)
Authors:ZHAO De-yi  WU Long-sheng  YU Hong-bo  LIU You-bao
Affiliation:Micro-electronics Technology Institute;Xi'an 710075;P.R.China
Abstract:
Keywords:SOI CMOS
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