20SiMnV钢疲劳过程的残余应力和正电子寿命谱研究

本文测定了20SiMnV钢经疲劳后的正电子寿命谱和宏观残余力,观察了疲劳断口、表面滑移带和沿试样层深位错结构的变化。结果表明:随着循环周次的增加,正电子湮没寿命和强度呈周期性变化,宏观残余应力时增时减。正电子湮没参数的周期性,与点阵畸变和晶体缺陷的周期性变化有关。滑移过程的不断进行,使试样表面残余应力的积蓄和释放交迭进行,故宏观残余应力时增时减。随着层深的增加,位错密度减少,与塑性形变沿层深减少相对应。