储频装置的实验研究

本文给出了储频装置关键器件——储频行波管的增益抑制特性和500μs长时间储存特性的测试结果。对储频行波管慢波线螺距的测量结果表明,螺距误差大乃是储频失效的重要原因之一。文中还就不同延迟线的衰减变化对储频时间的影响进行了对比。