PCU-03AB中ADC码临界测试算法研究 |
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作者姓名: | 薛茹 |
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作者单位: | 西藏民族学院,陕西咸阳,712082 |
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摘 要: | 本文在总结国内外A/D转换器性能测试的基础上,深入研究了A/D转换模块的测试理论和测试算法,给出了在FLEX测试平台下PCU-03芯片A/D转换器的静态参数的计算方法,并对算法进行了改进,并将正弦直方图算法引入到测试中.采用SPC软件对大量的测试数据采集、处理、分析,结果表明测试效率提高到原来的两倍,稳定性也有了明显的提高.
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关 键 词: | 集成电路测试 PCU_03ABS 正弦直方图 |
文章编号: | 1672-3791(2008)01(b)-0115-02 |
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