| 应用相移干涉云纹检测变线距光栅密度 |
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| 引用本文： | 王铷,唐欣,张天林,王迪,何世平.应用相移干涉云纹检测变线距光栅密度[J].中国科学技术大学学报,2004,34(5):568-574. |
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| 作者姓名： | 王铷 唐欣 张天林 王迪 何世平 |
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| 作者单位： | 中国科学技术大学力学和机械工程系,安徽,合肥,230027 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金 (10 2 72 0 98)资助项目 |
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| 摘 要： | 相移干涉云纹法被用于检测变线距全息光栅线密度的全场分布 .首先求出全场每个像素点的条纹级数 ,再利用最小二乘法将全场实验数据拟合成光滑的二维曲面 ,进而求出光栅密度的全场二维分布 .介绍了二维光栅密度的表述方法、相移干涉云纹法的检测原理及实验数据的处理步骤 ,推导出了相应的公式 .文中用不同的检测方法对同一个光栅的线密度进行了检测 ,以讨论实验检测误差
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| 关 键 词： | 变线距全息光栅 线密度 相移干涉云纹 条纹图处理 |
| 文章编号： | 0253-2778(2004)05-0568-07 |
| 修稿时间： | 2003年8月16日 |
Measurement of Varied-line-space Grating Density by Phase-shift Moiréinterferometry |
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| WANG Ru,TANG Xin,ZHANG Tian-lin,He Shi-ping.Measurement of Varied-line-space Grating Density by Phase-shift Moiréinterferometry[J].Journal of University of Science and Technology of China,2004,34(5):568-574. |
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| Authors: | WANG Ru TANG Xin ZHANG Tian-lin He Shi-ping |
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