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| 全介质窄带滤光片膜厚均匀性分析 | |
| 作者姓名： | 汤玮 李晓平 张晓晖 陈清明 |
| 作者单位： | 华中科技大学 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 (195 740 17) |
| 摘 要： | 对全介质窄带滤光片镀制时因基片位置不同引起的透射率曲线的变化进行了分析，得出了其透射率曲线形状基本保持不为仅中心波长发生偏移的结论，根据所得的结论，提出了用于DWDM光纤通信系统的滤光片的实际镀制的改进方案。 |
| 关 键 词： | 全介质窄带滤光片 均匀性 中心波长 透射率 透射率 WDM光纤通信系统 薄膜 |
| 文章编号： | 1000-8616(2001)06-0054-03 |
| 修稿时间： | 2000-12-18 |
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