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| X射线荧光光谱压片法快速分析钼矿石中的钼含量 | |
| 引用本文： | 邓飞,韩亮,马青兰.X射线荧光光谱压片法快速分析钼矿石中的钼含量[J].甘肃科技,2014,30(15):39-40. |
| 作者姓名： | 邓飞 韩亮 马青兰 |
| 作者单位： | 1. 中国冶金地质总局第三地质中心实验室,山西太原,030002 2. 甘肃省地矿局第二勘查院实验室,甘肃兰州,730020 |
| 摘 要： | 采用粉末压片——波长色散X射线荧光光谱法测量钼矿石中的钼含量。直接粉末压片制样,利用系列标样制作出标准曲线,采用经验系数法对基体效应进行校正。方法准确度、精密度能满足钼矿石(钼含量1%以下)中钼含量的测定。与化学法相比,本方法分析过程简单快速,精密度高,有更低的检出限。 |
| 关 键 词： | X射线荧光光谱法 压片法 钼矿 |
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