| 用于纳米技术的显微技术手册 |
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| 引用本文： | 姚楠.用于纳米技术的显微技术手册[J].国外科技新书评介,2006(9):9-10. |
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| 作者姓名： | 姚楠 |
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| 作者单位： | [1]Princeton University, Princeton, NJ, USA [2]Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA （Eds.） [3]中国科学院力学研究所, Atlanta, GA, USA （Eds.） |
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| 摘 要： | 本手册全面地介绍在纳米尺度上观察、描述、测量和操作材料技术的现状，论题涉及共焦光学显微技术、近场扫描光学显微技术、各种扫描探测显微技术、离子与电子显微技术、电子能量损失与X射线光谱学和电子束平板印刷技术等。每个课题均由该领域有重大贡献的世界级科学家撰写。
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| 关 键 词： | 技术手册 近场扫描光学显微技术 纳米技术 电子显微技术 X射线光谱学 电子能量损失 纳米尺度 材料技术 |
Handbook of Microscopy for Nanotechnology |
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| Nan Yao, Zhong Lin Wang, Wu Yongli;.Handbook of Microscopy for Nanotechnology[J].Scientific & Technology Book Review,2006(9):9-10. |
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| Authors: | Nan Yao Zhong Lin Wang Wu Yongli; |
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| Institution: | 1.Princeton University, Princeton, NJ, USA; 2.Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA (Eds. |
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| Abstract: | |
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