一种高可靠的开关电容PUF电路 |
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引用本文: | 贺章擎,张灵超,万美琳,邹雪城.一种高可靠的开关电容PUF电路[J].华中科技大学学报(自然科学版),2019,47(3):93-97,103. |
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作者姓名: | 贺章擎 张灵超 万美琳 邹雪城 |
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作者单位: | 湖北工业大学太阳能高效利用及储能运行控制湖北省重点实验室,湖北武汉,430068;湖北大学物理与电子科学学院,湖北武汉,430062;华中科技大学光学与电子信息学院,湖北武汉,430074 |
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基金项目: | 国家自然科学基金;湖北省教育厅科学技术研究重点项目 |
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摘 要: | 提出了一种高可靠的开关电容PUF(RSC-PUF)电路,通过在开关电容PUF(SCPUF)内部嵌入一个测试电容及相应的控制电路,在其运行过程中自动测试每个PUF单元的电容偏差,根据偏差大小为每bit输出生成相应的可靠性标识值,外部电路可以由此挑选可靠的PUF单元输出构建数字密钥.在HJ 0.18μm CMOS(互补金属氧化物半导体)工艺下进行流片验证,结果显示:当被挑选的可靠PUF的比率为20.5%时,RSC-PUF的比特错误率达到1×10-8以下,满足密钥产生所需的可靠性要求;而32 bit RSC-PUF所消耗的面积与SC PUF相比增加了约74.8%,远小于纠错机制所需要的开销.
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关 键 词: | 开关电容 物理不可克隆函数(PUF) 可靠性增强 密钥产生 可靠性测试 可靠性标识 |
A reliable PUF circuit based on switched-capacitor circuit |
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Abstract: | |
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Keywords: | |
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