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反走样技术及其应用
引用本文:袁芬.反走样技术及其应用[J].科技资讯,2007(13):208-209.
作者姓名:袁芬
作者单位:浙江长征职业技术学院;浙江长征职业计算机学院
摘    要:反走样技术是提高光栅图形显示质量的重要技术之一。研究如何消除或减缓走样现象,给人视觉上产生更舒适光滑的图形,在图形界面已成为人机交互主流方式的今天,具有一定的应用价值。在查阅了大量文献资料的基础上,论文从现有的反走样技术(如普通区域取样、普通过取样、加权过取样)入手,对反走样的理论基础和实现技术进行了分析研究,本文重点对直线段反走样进行了研究和改进。

关 键 词:反走样  区域取样  过取样
文章编号:1672-3791(2007)05(a)-0208-02
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