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C轴择优取向AlN薄膜的制备研究
引用本文:李位勇,张凯,徐丹丹,陈丽丽,顾豪爽.C轴择优取向AlN薄膜的制备研究[J].四川大学学报(自然科学版),2005(Z1).
作者姓名:李位勇  张凯  徐丹丹  陈丽丽  顾豪爽
作者单位:湖北大学物理学与电子技术学院 湖北大学物理学与电子技术学院 武汉
摘    要:采用直流磁控反应溅射法制备AlN薄膜.研究了靶基距、衬底温度和电极材料对AlN薄膜择优取向的影响.用XRD、AFM表征了AlN薄膜的结构、表面形貌.结果表明衬底温度为300℃、靶基距为3cm,在Pt电极上可沉积高质量的C轴择优取向AlN薄膜.

关 键 词:AlN薄膜  直流磁控反应溅射  C轴择优取向
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