|
|||||
|
|
| 半导体激光器筛选方法及可行性测试 | |
| 引用本文： | 李锐,李洪祚.半导体激光器筛选方法及可行性测试[J].长春师范学院学报,2008,27(5). |
| 作者姓名： | 李锐 李洪祚 |
| 作者单位： | 长春理工大学空间光电技术研究所,吉林长春130022 |
| 摘 要： | 生命期测试和筛选测试在开发和生产半导体激光器中是一个重要的测试过程。尽管这些测试过程原则上很简单，实际上这些测试过程因激光器的差异而变得十分复杂，要求较低的花销，要求在延长的时间中有高稳定的测量方式。在过去的30年里，已经开发出了设备和技术来支持这个技术领域。 |
| 关 键 词： | 半导体激光器 热沉损耗 |
Laser Diode Burn-in and Reliability Testing |
|
| Li Rui,LI Hong-zuo.Laser Diode Burn-in and Reliability Testing[J].Journal of Changchun Teachers College,2008,27(5). | |
| Authors: | Li Rui LI Hong-zuo |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ | |