| Al_(66)Mn_(14)Si_(20)合金条带的电学性质研究 |
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| 引用本文： | 楚树成,许大鹏,苏文辉,张强.Al_(66)Mn_(14)Si_(20)合金条带的电学性质研究[J].吉林大学学报(理学版),1990(1). |
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| 作者姓名： | 楚树成 许大鹏 苏文辉 张强 |
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| 作者单位： | 吉林大学物理系，吉林大学物理系，中国高等科学技术中心(世界实验室)，吉林大学物理系 大连海运学院金属材料工艺研究所，北京8730信箱 |
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| 基金项目： | 中国科学技术大学结构测试中心开放实验室资助课题 |
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| 摘 要： | 本文报导了退火温度对Al_(56)Mn_(14)Si_(20)急冷条带的电阻-温度系数的影响。在77～300K温区内电阻-温度系数发生了从负到正的转变。差热分析、电子顺磁共振、X射线和电子衍射实验表明:该现象对应着样品中的非晶相晶化的过程,变化中电子态由局域态转变成扩展态。在电子衍射实验中还见到了一种具有12重对称性的电子衍射花样。
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| 关 键 词： | Al_(66)Mn_(14)Si_(20)非晶合金 退火 电子衍射 TG-DTA 电子顺磁共振 |
An Investigation on Electric Property of the Rapidly Quenched Al-Mn-Si Alloy |
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| Chu Shuchen,Xu Dapeng,Su Wenhui and Zhang Qiang.An Investigation on Electric Property of the Rapidly Quenched Al-Mn-Si Alloy[J].Journal of Jilin University: Sci Ed,1990(1). |
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| Authors: | Chu Shuchen Xu Dapeng Su Wenhui and Zhang Qiang |
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| Institution: | Chu Shuchen,Xu Dapeng,Su Wenhui~+ and Zhang Qiang |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Al_(66)Mn_(14)Si_(20) amorphous anneal electron diffraction TG-DTA electron paramagnetic resonance(EPR) |
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