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DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
SD 80-1型半微分器
作者姓名:
林文如
林耿介
王耀光
作者单位:
福州大学化学化工系(林文如,林耿介),福州大学化学化工系(王耀光)
摘 要:
近来提出了一种新的电分析技术──半微分电分析法。这个方法比一般线性扫描伏安法具有更高的灵敏度和更好的分辨率。为了采用这个方法测定痕量重金属,我们自己设计组装了一台半微分器。该仪器由电流半微分模拟电路、衰减器、调零器和稳压器四部份组成。用此半微分器与国产75-3A型极谱仪联用,进行仪器性能试验,所得实验结果与阳极溶出半微分电分析法的理论公式的预计相符合。
关 键 词:
微分器
SD 80-1
模拟电路
痕量重金属
衰减器
稳压器
线性扫描伏安法
极谱仪
电分析
设计组装
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