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| 基于嵌ARM的电路自动测试系统的设计 | |
| 引用本文： | 邢华刚,张国凯.基于嵌ARM的电路自动测试系统的设计[J].科技信息,2011(31):126-126,140. |
| 作者姓名： | 邢华刚 张国凯 |
| 作者单位： | 南京信息职业技术学院;中核四0四有限公司; |
| 摘 要： | 本文介绍了一种基于嵌入式的电路测试系统的设计。区别于传统的基于通用工控机的电路测试系统,本文充分利用ARM、FPGA、DDS等先进技术的体积小功耗小的特点把传统的测试系统做进一步的改进设计,使得测试系统便于携带,性能更加优良。 |
| 关 键 词： | 测试系统 ARM DDS FPGA |
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