| 用双踪示波器测试TTL与非门电压传输特性 |
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| 引用本文： | 陈梅荪,毛金文.用双踪示波器测试TTL与非门电压传输特性[J].井冈山学院学报,2000(5). |
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| 作者姓名： | 陈梅荪 毛金文 |
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| 作者单位： | 井冈山师范学院物理系!江西吉安 343009，井冈山师范学院物理系!江西吉安 343009 |
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| 摘 要： | 通过利用双踪示波器显示任意两个电压变量之间关系的功能对测试 TTL与非门电压传输特性实验进行改进，使测试更加直观、形象，并有利于探讨其逻辑电平关系，开关特性，抗干扰能力等电气特性 .
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| 关 键 词： | TTL与非门 电压传输特性 测试和双踪示波器 |
Test the Voltage Transfer Characteristics of TTL NAND Gate by Double-t rail Oscillograph |
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| CHEN Mei-sun, MAO Jin-wen.Test the Voltage Transfer Characteristics of TTL NAND Gate by Double-t rail Oscillograph[J].Journal of Jinggangshan University,2000(5). |
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| Authors: | CHEN Mei-sun MAO Jin-wen |
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