| FAN算法在瞬态电流测试产生中的应用 |
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| 引用本文： | 魏小芬,邝继顺.FAN算法在瞬态电流测试产生中的应用[J].同济大学学报(自然科学版),2002,30(10):1239-1243. |
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| 作者姓名： | 魏小芬 邝继顺 |
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| 作者单位： | 湖南大学,计算机与通信学院,湖南,长沙,410082 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 ( 6 0 1730 42 ) |
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| 摘 要： | 在不考虑冒险的情况下，对于CMOS电路中的开路故障，探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性，定义了三种不同的D前沿，并将测试产生分为激活故障，使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化，减少旁路的影响三个部分，实验结果说明，在不考虑冒险的情况下，将FAN算法应用于瞬态电流测试产生是可行的。
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| 关 键 词： | CMOS电路 开路故障 测试产生 瞬态电流测试 D前沿 数字集成电路 FAN算法 |
| 文章编号： | 0253-374X(2002)10-1239-05 |
| 修稿时间： | 2002年7月15日 |
Practice on IDDT Test Generation Based on FA N Algorithm |
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| WEI Xiao-fen,KUANG Ji-shun.Practice on IDDT Test Generation Based on FA N Algorithm[J].Journal of Tongji University(Natural Science),2002,30(10):1239-1243. |
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| Authors: | WEI Xiao-fen KUANG Ji-shun |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | CMOS circuits stuck-open fault test generation transient current testing D-front |
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