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| 《可靠性》之四(下):高可靠系统的设计和试验 | |
| 引用本文： | Robert Bernhard ,W.RichardScott ,Anthony Coppola ,Robert Dunn ,大庆.《可靠性》之四(下):高可靠系统的设计和试验[J].系统工程与电子技术,1983(7). |
| 作者姓名： | Robert Bernhard W.RichardScott Anthony Coppola Robert Dunn 大庆 |
| 摘 要： | 在生产诸如存贮器芯片和微处理机等数字器件时,大规模集成电路(LSI)的测试费用占总成本的很大一部分。对于较早期的小规模和中规模集成电路来说,制造商花不多的经费就能详尽地检测电路中各种可能的工作状态;但是,对于大规模或超大规模集成电路(VLSI)来说,由于器件的工作状 |
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