首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

用微小变动量法计算X射线荧光分析中的理论基体修正
引用本文:谭秉和,崔新发.用微小变动量法计算X射线荧光分析中的理论基体修正[J].北京科技大学学报,1987(3).
作者姓名:谭秉和  崔新发
作者单位:北京钢铁学院物质结构分析中心 (谭秉和),北京钢铁学院物质结构分析中心(崔新发)
摘    要:微小变动量法是X射线荧光分析中计算理论修正系数的一种成功的方法。用这种方法计算出基础理论修正系数后,可根据需要选择适当的消去项。本文应用作者编写的计算机程序,计算了熔融玻璃片试样的基础理论修正系数δi i后,消去分析元素i及基元素氧两个修正项,得到熔融玻璃片试样中元素间的理论修正系数α_(i-j)以及氧化物间的理论修正系数Aij。最后用所求得的理论修正系数,采用JIS(日本工业标准)模式,用比较标准法分析了6个铁矿石试样,获得较好的结果。

关 键 词:X射线荧光  基体效应  共存元素  基体修正

Calibration for Theoretical Matrix Corrections in X-Ray Fluarescence Analysis by Minute Varying Method
Tan Pinghe Cui Xinfa.Calibration for Theoretical Matrix Corrections in X-Ray Fluarescence Analysis by Minute Varying Method[J].Journal of University of Science and Technology Beijing,1987(3).
Authors:Tan Pinghe Cui Xinfa
Institution:Tan Pinghe Cui Xinfa
Abstract:
Keywords:x-ray fluorescence  matrix effect  cpexit elements  matrix correction
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号