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| 核黄素光敏反应对溶酶体H~+-ATPase产电性的影响 | |
| 作者姓名： | 张过江 |
| 作者单位： | 中国科学院生物物理研究所 北京100101(张过江，姚军兰，王嘉)，中国科学院生物物理研究所 北京100101(张志义) |
| 基金项目： | 中国科学院生物物理研究所所长择优课题资助项目 |
| 摘 要： | 溶酶体是执行多种代谢和防御功能的细胞器.以往自由基医学领域对溶酶体的研究集中于活性氧对其膜的脂质过氧化作用及该损伤是否可导致细胞死亡,未注意对其膜H~ -ATPase损伤的研究.该H~ 泵维持溶酶体内的弱酸性,其所具有的产电性(electrogenicity)可增强膜的渗透稳定性,还可促进把蛋白质降解生成的胱氨酸转运出溶酶体,我们认为,对该H~ -ATPase的光敏损伤值得重视,因此研究了几种活性氧对该H~ -ATPase转运H~ 功能的损伤作用,本文揭示了核黄素光敏反应中~1O_2和氧自由基对该酶产电性的破坏. |
| 关 键 词： | 溶酶体 膜电位 核黄素 光敏反应 |
| 收稿时间： | 1993-12-11 |
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