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半导体缺陷研究
引用本文：杨德仁,李东升.半导体缺陷研究[J].国际学术动态,2000(1):33-35.
作者姓名：杨德仁  李东升
摘    要：
关 键 词：半导体缺陷  学术会议  硅  杂质  半导体材料
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