首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

基于透射光谱确定硅碳氧薄膜的光学常数
引用本文:张平,李晨,陈焘,王多书.基于透射光谱确定硅碳氧薄膜的光学常数[J].上海理工大学学报,2013,34(2).
作者姓名:张平  李晨  陈焘  王多书
作者单位:台州学院 物理与电子工程学院,浙江 台州318000;兰州空间技术物理研究所,甘肃 兰州730000;兰州空间技术物理研究所,甘肃 兰州730000;兰州空间技术物理研究所,甘肃 兰州730000
摘    要:硅碳氧薄膜是一种含有Si、C和O三种元素的玻璃状化合物材料,同时拥有碳化硅薄膜及氧化硅薄膜多种优异的特性,如热稳定性好、能带宽、折射率大、硬度高和热导率高等,是一种具有潜在应用价值的新颖光学薄膜.基于硅碳氧薄膜的紫外/可见/近红外透射光谱,采用Swanepoel极值包络线法,结合WDD色散模型,建立了一套精确、方便并适合于计算硅碳氧薄膜光学常数的方法.方便地获得了硅碳氧薄膜折射率、厚度等光学常数.并将厚度计算结果与实际测量值进行了比较.结果表明,试验中研究硅碳氧薄膜光学常数所采用的方法是合理的,能够准确地获得硅碳氧薄膜的折射率及厚度等光学常数.

关 键 词:透射光谱  硅碳氧薄膜  光学常数

Determination of the Optical Properties of Silicon Oxycarbide Thin Films from Transmission Spectra
ZHANG Ping,LI Chen,CHEN Tao and WANG Duoshu.Determination of the Optical Properties of Silicon Oxycarbide Thin Films from Transmission Spectra[J].Journal of University of Shanghai For Science and Technology,2013,34(2).
Authors:ZHANG Ping  LI Chen  CHEN Tao and WANG Duoshu
Abstract:
Keywords:transmission spectra  silicon oxycarbide films  optical properties
点击此处可从《上海理工大学学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《上海理工大学学报》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号