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厚样品电子断层成像中的电子透过率非线性效应
引用本文:曹猛,李瀛台,张海波,王芳. 厚样品电子断层成像中的电子透过率非线性效应[J]. 西安交通大学学报, 2011, 45(6): 50-54
作者姓名:曹猛  李瀛台  张海波  王芳
作者单位:西安交通大学电子物理与器件教育部重点实验室,710049,西安
基金项目:教育部高等学校博士学科点专项科研基金,陕西省自然科学基金基础研究计划资助项目,中央高校基本科研业务费专项资金资助项目
摘    要:为提高透射电子显微术中厚样品电子断层成像的质量,研究了电子透过率与样品质量厚度之间的非线性关系对厚样品电子断层成像的影响.在微米量级厚样品电子透过率实测结果的基础上,通过计算机模拟生成系列投影像并进行了图像重构.模拟结果表明,电子透过率的非线性会在重构结果中产生伪结构,投影值偏离量随投影位置的变化率与伪结构相关.进一步评价了样品在不同倾斜角度范围时电子的非线性透过率对图像重构质量的影响,发现这种影响随样品倾斜角度增大而增强,并有可能降低图像重构的质量.

关 键 词:断层成像  透射电子显微术  非线性效应  厚样品

The Nonlinear Effect of Electron Transmission in Electron Tomography for Thick Specimens
CAO Meng,LI Yingtai,ZHANG Haibo,WANG Fang. The Nonlinear Effect of Electron Transmission in Electron Tomography for Thick Specimens[J]. Journal of Xi'an Jiaotong University, 2011, 45(6): 50-54
Authors:CAO Meng  LI Yingtai  ZHANG Haibo  WANG Fang
Affiliation:(Key Laboratory for Physical Electronics and Devices of the Ministry of Education,Xi′an Jiaotong University,Xi′an 710049,China)
Abstract:Nonlinear effects between electron transmission and mass thickness on the quality of electron tomography(ET) for thick specimens are studied to improve the quality of the ET for thick specimens in transmission electron microscopy.A series of projections are produced by simulation and then used to reconstruct images based on electron transmission through the microns-thick specimens.It is found from simulation that artifacts due to nonlinearity exist in the reconstruction result.The artifacts are relevant to ...
Keywords:tomography  transmission electron microscopy  nonlinear effect  thick specimen  
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