|
|||||
|
|
| H~+质子化对壳聚糖膜材动态力学行为的影响 | |
| 引用本文： | 王琼生,王世铭.H~+质子化对壳聚糖膜材动态力学行为的影响[J].福建师范大学学报(自然科学版),2013(3):68-74,90. |
| 作者姓名： | 王琼生 王世铭 |
| 作者单位： | 福建师范大学材料科学与工程学院;福建省高分子重点实验室;福建师范大学化学与化工学院 |
| 基金项目： | 福建省科技厅重大项目(2010H6006) |
| 摘 要： | 以流延法制备H+质子化壳聚糖和中性壳聚糖膜材,在-100～345℃范围用动态机械热分析仪(DMTA)研究H+质子化壳聚糖膜材动态储能模量E’、动态损耗模量E″和力学损耗因子tanδ的温度谱和频率谱,结合X射线、红外光谱、扫描电镜和热重差热分析,探讨H+质子化对壳聚糖膜材动态力学行为及其热稳定性的影响. |
| 关 键 词： | 壳聚糖 H+质子化 薄膜 动态力学行为 动态机械热分析仪 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |