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电感耦合等离子体CVD室温制备的纳米Si薄膜场电子发射研究
作者姓名:贺德衍  王晓强  陈强  栗军帅  尹旻  A. V. Karabutov  A. G. Kazanskii
作者单位:兰州大学物理系,兰州,730000;General Physics Institute, Vavilova str.38, Moscow 119991, Russia;Moscow State University, Vorobyevy Gori, Moscow 119992, Russia
基金项目:致谢 本工作得到国家自然科学基金(批准号:10175030)和甘肃省科技攻关项目(批准号:4WS035-A72-134)的资助.
摘    要:利用电感耦合等离子体化学气相沉积在室温下制备了Si薄膜,用拉曼谱对样品的结构进行了表征,502 cm-1附近散射峰的出现说明在样品中形成了纳米结晶相。用原子力显微镜观察样品表面形貌发现,在合适的等离子体条件下制备的样品,其表面由随机均匀排列的高密度Si锥组成,Si锥的高度为30~40 nm,直径约为200 nm。场电子发射测量结果显示样品具有良好的电子发射特性,开启电压为7~10 V/μm。

关 键 词:ICP-CVD  纳米行Si锥  场电子发射  低温生长
收稿时间:2005-08-13
修稿时间:2005-08-132005-10-17
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