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| 谱聚类与混沌免疫相结合的软件缺陷分析算法 | |
| 作者姓名： | 徐毅 范会敏 |
| 作者单位： | 1. 西北政法大学 商学院, 西安 710100; 2. 西安工业大学 计算机科学与工程学院, 西安 710021 |
| 摘 要： | 针对谱聚类算法中K-means处理无标识软件度量元数据易陷入局部最优的问题, 提出一种新的混沌免疫聚类算法. 该方法在免疫克隆选择算法的框架下, 设计抗体亲和度计算方法用于免疫克隆聚类中心的评价, 并给出分层混沌变异算子, 进一步提高了无标识软件度量元数据的预测性能. 仿真实验验证了算法的有效性. |
| 关 键 词： | 软件缺陷预测 软件度量元 混沌理论 谱聚类 |
| 收稿时间： | 2016-03-16 |
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