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常温低氮氩比下(002)择优取向氮化铝薄膜的制备
引用本文:孙化冬,彭冬香,张伟,张立东,刘望,汪渊.常温低氮氩比下(002)择优取向氮化铝薄膜的制备[J].四川大学学报(自然科学版),2011,48(6):1386-1390.
作者姓名:孙化冬  彭冬香  张伟  张立东  刘望  汪渊
作者单位:1. 四川大学原子核科学技术研究所教育部辐射物理及技术重点实验室,成都,610064
2. 河北武邑中学,武邑,053400
基金项目:国家自然科学基金(50771069,50871083);四川省科技支撑计划基金(2008FZ0002);教育部新世纪人才基金(NCET-08-0380)
摘    要:常温下采用反应射频磁控溅射方法在玻璃基底上制备出(002)单一择优取向柱状结构的氮化铝薄膜,通过XRD分析发现溅射功率为80 W、溅射气压为0.20 Pa、氮气与氩气比为5%时,氮化铝(002)晶体衍射峰最强,通过FESEM表面及截面分析表明在此条件下得到的氮化铝薄膜表面较平整、致密性较好.

关 键 词:AlN薄膜  射频反应磁控溅射  择优取向  沉积速率

The preparation of (O02)-oriented aluminum nitride thin films under low nitrogen argon ratio at room temperature
SUN Hua-Dong,PENG Dong-Xiang,ZHANG Wei,ZHANG Li-Dong,LIU Wang,WANG Yuan.The preparation of (O02)-oriented aluminum nitride thin films under low nitrogen argon ratio at room temperature[J].Journal of Sichuan University (Natural Science Edition),2011,48(6):1386-1390.
Authors:SUN Hua-Dong  PENG Dong-Xiang  ZHANG Wei  ZHANG Li-Dong  LIU Wang  WANG Yuan
Abstract:
Keywords:AlN films  RF reactive magnetron sputtering  preferred orientation  deposition rate
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