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| 纯金属Bi中高能重离子辐照效应 | |
| 作者姓名： | 王志光 Toulemonde 金运范 Dufour J.Dural E.Paumier |
| 作者单位： | 1. CIRIL, Rue Claude Bloch, BP5133, 14040 Caen Cedex, France 2. 1中国科学院近代物理研究所 3. LERMAT, ISMRa, Bd.Mai Juin, 14050 Caen Cedex, France. 4. CIRIL, Rue Claude Bloch, BP5133, 14040 Caen Cedex, France;LERMAT, ISMRa, Bd.Mai Juin, 14050 Caen Cedex, France. |
| 摘 要： | 利用高能重离子（Kr,Xe,Sn和Pb)辐照处于16或100K的低熔点纯金属Bi,通过测量分析辐照引起的样品电阻率增量及其变化速率随辐照剂量的变化，研究了入射离子在Bi中引起的辐照损伤效应如辐照损伤效率及复杂缺陷的产生等。结果表明，强的电子能损可在纯金属Bi中引起附加缺陷的产生，从而使得辐照损伤效率＞1。电子能损值大时，入射离子在Bi中引起的辐照效应主要是电子能损效应。辐照温度和入射离子速度对辐照效应的强弱有一定的影响。 |
| 关 键 词： | 纯金属铋 辐照损伤效率 电子能损效应 高能重离子辐照效应 电阻率 辐照剂量 |
| 收稿时间： | 2000-09-11 |
| 修稿时间： | 2000-09-11 |
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